【目的】
世界の研究者たちとの意見交換を通じて、自身の研究活動のブラッシュアップすることで受講生のグローバル研究力の養成に寄与する。
【概要】
●大会名： The 27th IEEE Asian Test Symposium (ATS'18)
●日 程： 平成30年10月16日（火）
●開催場所： Westin Hefei Baohe（合肥富力威斯汀）
（No. 150 Ma'An Shan Road, Baohe District Hefei, Anhui 230011 China）
●参加生徒： ジャンプステージ受講生7名
●内 容： ポスターセッション
